发布日期:2022-06-06 09:33
品牌:日本理学
仪器功能及应用:
1. 可对粉末、薄膜、纳米材料及块状样品进行多种方式的测试。
2. 主要用于物相定性、半定量分析,晶粒尺寸测定、薄膜物相鉴定。
3. 操作简单,峰位准确。
仪器说明:
智能多功能X射线衍射仪 Smartlab SE,适合测试粉末、块状、薄膜样品等。主要应用于混合物相的定性分析;样品的对照分析结晶度分析;晶体物相的定量分析;薄膜材料的研究等。
制备要求:
1. 粉末样品:
粉末样品要求:干燥、在空气中稳定,粒度均匀,粒径1-50μm(大尺寸块体需研磨后过250目筛),粉末样品量约需1g。
2. 块状样品:
块状样品要求:测试面清洁平整,也可是板状、片状,带衬底材料的薄膜或带基材的镀层等原始形状,厚度≤15mm,直径≤30mm。
3. 特殊样品:
特殊样品要求:非上述常规样品,例如极少量的粉末、尺寸很小的条带样品或是超薄的聚合物或是高分子薄膜样品等,样品制备可以咨询相关老师。